吴幸教授获2022 年度国际微电子工程青年科学家奖

把中国的微电子工程领域向世界舞台推上了一个新的台阶,吴幸教授刚斩获了2022年度国际微电子工程青年科学家奖。这次的大奖在爱思唯尔发布的名单上只有两个名额,吴幸教授就从全球选手中脱颖而出。Elsevier成立于1880年,它旗下的2500多种期刊每年发表约35万篇论文,占到了全球论文总量的18%,而且引用量也占25%。爱思唯尔这个出版集团提供了一个重要的平台,把学术界的影响力评价转化为数字。Scopus数据库收录了全球最大的摘要和引文信息库,这个数据库也成了衡量学者研究影响力的重要标尺。这次的奖项由爱思唯尔旗下的《Microelectronic Engineering》杂志主办。 因为在二维材料和纳米器件的原位表征方面做出了系统性的贡献,吴幸教授被邀请列入了获奖名单。给芯片进入纳米尺度、多功能、高可靠的新阶段带来了挑战。随着芯片技术的不断发展,器件服役环境变得越来越严苛。给材料微观结构带来复杂演化的有很多因素,包括力、热、光、电和磁等多场耦合。 吴幸教授的团队选择新型二维材料作为突破口,他们重点围绕“原位”二字展开系统攻关。他们把在真实工作场景下实时捕捉结构演变作为目标。把数据根基打牢后,为后续的集成工作提供支持。在实验室里他们自创了一个多模态原位测试平台,在这个平台上可以同步施加力、热、光、电和磁刺激。给高精度观测提供了可能的是利用高分辨电子显微镜、扫描探针显微镜与同步辐射光源。 系列研究成果已经在Nature子刊、IEEE TED、IEEE EDL、IPFA等顶刊上发表了。为了后摩尔时代材料与器件的可靠性评估与失效机制提供了关键数据,也为纳米制造技术的发展指明了方向。吴幸教授表示这个奖项是对他们多年来坚持原位研究的肯定。在未来他们还会继续深耕二维材料与异质结器件领域,推动高密度存储、柔性传感还有量子计算等前沿应用落地。 随着纳米制造向原子级精度迈进,原位表征技术给芯片良率提升还有成本下降提供了关键杠杆作用。