大家好，今天我给大家介绍一下OTSUKA大冢电子的RETS-100nx型迟滞测量装置。OTSUKA大冢电子这次推出的RETS-100nx型迟滞测量装置，最大的亮点就是它的高精度。这个产品独特的光谱仪技术，能让测量变得非常精准。这是怎么做到的呢？我们给仪器配备了高性能多通道光谱仪。这样一来，我们就能收集到海量透射率信息，把测量精度推到一个新高度。简单说，用RETS-100nx，你可以得到约500个波长的透射率数据，而其他公司产品大概只能做到十几二十个。这差不多是别人的50倍呢！除了高精度，这个装置的测量范围也特别广。它能测的延迟范围从0一直到60,000纳米，能适应各种材料的需求。这个装置还给了我们一个特别大的好处：能看到延迟波长色散的形状。这对研究超双折射薄膜很有帮助。它不仅能高速测量这些薄膜，还能保证精度。多层材料也不用担心了，RETS-100nx给你提供无损多层测量功能。 这样做给我们带来了很大的便利，无需剥离就能知道多层薄膜的层压状态。有时候样品放置不够理想怎么办？别担心！RETS-100nx内置了轴角校正功能。这样即使样品没有完全对准，你也能轻松、重复地进行测量。这个功能特别实用。为了让你更直观地看到效果，我们把样品R85缓释膜重新定位了10次进行了比较：一次是没有角度校正的结果，另一次是用了角度校正后的结果。你可以看到差异很明显。 在操作性方面呢？软件操作非常简单易用。它大大缩短了测量和处理时间，让用户的体验更好。下面我再给大家介绍一下具体的规格信息：RETS-100nx可以测量胶片、光学材料、偏光片还有液晶盒。对于胶片和光学材料来说，可以测延迟、慢轴、Rth和三维折射率这些参数。偏光片方面呢，可以测吸收轴、偏振度、消光比还有各种色度和透射率等参数。液晶盒方面的话就是细胞间隙、预倾角还有扭转角这些参数了。 延迟测量范围是0到60,000纳米。这个范围内它都能搞定！延迟重复性也很惊人：3σ小于等于0.08纳米（比如对于晶体波片大约600纳米）。 细胞间隙测量范围呢？是0到600微米（当Δn等于0.1时）。 电池间隙重复性也很给力：3σ小于等于0.005微米（比如电池间隙大约3微米，Δn等于0.1）。 轴检测重复性也不错：3σ小于等于0.08度（比如晶体波片，波长大约600纳米）。 测量波长范围是400到800纳米（当然也有其他选项）。探测器是多通道光谱仪。 测量直径是2毫米（标准规格）。 光源是100瓦卤素灯。 数据处理部分用的是个人电脑和显示器。 舞台尺寸标准是100毫米乘100毫米（固定平台）。 最后说一下可选功能：超高延迟测量、多层测量、轴角校正功能、自动XY平台还有自动倾斜旋转平台这些选项都是可以提供给大家选择的哦！*1这里需要注意的是自动倾斜和旋转平台是可选的哈！